GB1556-1979硅单晶晶向X光衍射测量方法

标准号：GB 1556-1979

标准名称：硅单晶晶向X光衍射测量方法

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

实施日期：1980-01-01

中国标准分类号(CCS)：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

替代以下标准：被GB/T 1555-1997代替

GB1556-1979《硅单晶晶向 X 光衍射测量方法》已被修订，目前已不再使用该版本标准。不过其大致的测量方法原理主要基于 X 光对硅单晶的衍射效应来确定晶向。以下是一般的测量过程和要点：

样品准备：

选取合适的硅单晶样品，要求样品具有良好的晶体质量和表面平整度，以确保测量结果的准确性。通常需要对样品进行切割、研磨、抛光等预处理，使其表面光滑且无明显的缺陷和损伤。

将样品固定在测量装置上，确保样品在测量过程中位置稳定，不会发生移动或晃动。

X 光照射：

使用特定波长的 X 光照射硅单晶样品。X 光的波长应与硅晶体的晶格间距相匹配，以满足布拉格衍射条件。

调整 X 光的入射角和方向，使其以不同的角度照射到样品上，以便观察到不同晶面的衍射现象。

衍射数据收集：

使用探测器或底片等设备来收集 X 光经过样品后产生的衍射信号。探测器可以记录衍射光的强度和角度等信息，底片则可以通过曝光形成衍射图案。

在不同的入射角和方位角下进行测量，收集足够多的数据，以便全面分析硅单晶的晶向。

数据处理与分析：

根据收集到的衍射数据，计算出不同晶面的衍射角和晶面间距等参数。这通常需要使用布拉格定律等相关的晶体衍射理论公式进行计算。

通过对衍射数据的分析和处理，确定硅单晶的晶向。可以根据衍射图案的特征、衍射峰的位置和强度等信息来判断晶体的取向和晶向。

需要注意的是，现代的硅单晶晶向测量方法已经有了很大的发展和改进，采用了更先进的仪器设备和技术，如高分辨率的 X 射线衍射仪、计算机自动化控制和数据处理等，能够更加准确、快速地测量硅单晶的晶向。如果你需要进行硅单晶晶向的测量，建议参考最新的相关标准和技术文献。